arXiv cs.SE· Gou Tan, Zilong He, Min Li, Pengfei Chen, Jieke Shi, Zhensu Sun, Ting Zhang, Danwen Chen, Lwin Khin Shar, Chuanfu Zhang, David Lo·· 2 小时前AI 评分38
LIDL：用知识图谱增强多智能体分析定位 LLM 集成缺陷
LIDL: LLM Integration Defect Localization via Knowledge Graph-Enhanced Multi-Agent Analysis
AI 导读
论文提出 LIDL，一个面向 LLM 集成软件的多智能体缺陷定位框架，通过构建带 LLM 相关标注的代码知识图谱、融合多源错误证据，并用反事实推理区分真实根因与传播症状。
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