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LIDL:用知识图谱增强多智能体定位LLM集成缺陷

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AI 综述

Gou Tan 等作者提出 LIDL,一个面向 LLM 集成软件的多智能体缺陷定位框架。其做法是构建带 LLM 相关标注的代码知识图谱、融合多源错误证据,并用反事实推理区分真实根因与传播症状。 该框架针对的是 LLM 集成软件中缺陷定位的困难;作者称其能区分根因与由根因引发的传播症状。目前报道只给出框架设计,未提供评估结果。

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10月23日
  1. arXiv cs.SE
    LIDL:用知识图谱增强多智能体分析定位 LLM 集成缺陷

    论文提出 LIDL,一个面向 LLM 集成软件的多智能体缺陷定位框架,通过构建带 LLM 相关标注的代码知识图谱、融合多源错误证据,并用反事实推理区分真实根因与传播症状。

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